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硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊分析儀 硅片位錯層錯檢測儀

  • 簡單描述
  • 適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等;

    使硅片缺陷觀察工作簡單化,準確化,同時極大程度降低此項工作強度;

    實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵
  • 產品型號:  JC06-WDI
  • 更新時間:  2024-11-27
  • 訪問次數:  1409
詳細介紹

硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀

型號JC06-WDI

硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。

實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;

硅片缺陷觀測儀-產品特點

適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等;

使硅片缺陷觀察工作簡單化,準確化,同時極大程度降低此項工作強度;

實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;

使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術*,像素較高, 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富;

傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設計

有效分辨率為 200 萬像素;

所配軟件能兼容 windows 2000 windows XP 操作系統。

 

北京北信科儀分析儀器有限公司

地址:北京市昌平區西三旗龍旗廣場2號樓

:李

 

http://www.bxequ.com


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